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为什么要做这个评估 ?
首先由于温度丈量在产品测试历程中是一个要害办法，可以用来盘算半导体器件的事情结温、盘算电解电容的事情寿命、掌握机壳的外貌温度等等，这些数据关于评估产品的可靠性至关主要。而在丈量温度的时间，接触式热电偶和非接触式红外仪器是最常用的两类装备，以下是现在硬件测试实验室在使用的丈量装备：
虽然泛起两种温度丈量装备并不是无意，由于各有各的优点。热电偶的优点是丈量效果准确，弱点是热偶线的粘贴以及与待测物抵达热平衡的时间长，以是丈量较量费工费时，温度响应速率也较量慢；红外仪器的优点是丈量快速，并且可丈量难以靠近的物体温度，弱点是丈量效果容易受到影响，并且无法直接丈量关闭结构内部的器件温度。以是在现实应用中，通常是先使用红外测温仪快速扫描产品的高温区域漫衍，然后再使用热电偶举行准确的温升测试。
但在丈量精度上许多人都会有这样的疑问 ：“同样在丈量处于开放情形下的物体外貌温度，红外测温仪能否取代热电偶 ? ”若是可行，那么许多场景下的温度测试使用红外丈量能够节约大宗时间。
1测温原理
1.1红外测温原理
在自然界中,当物体的温度高于绝对零度时,由于它内部热运动的保存,就会一直地向周围辐射电磁波,其中就包括了波段位于0.75 ～ 1000μm 的红外线，红外测温仪即通过丈量该辐射量来盘算待测物体温度。
斯蒂芬--玻耳兹曼定理 ：
其中：
Pb(T) -- 温度为T 时，单位时间从黑体单位面积上辐射出的总辐射能，称为总辐射度
σ -- 斯蒂芬—玻耳兹曼常量
T -- 物体温度
以上是黑体辐射公式，此处引入一个辐射率参数ε(λ)，界说为：
由于只有黑体ε=1，自然界中的物体0<ε<1 ，称为灰体，将式（2）带入式（1）获得：
凭证基尔霍夫定理：物体外貌的半球单色发射率(ε)即是它的半球单色吸收率(α)，ε=α。在热平衡条件下，物体的辐射功率即是吸收功率。设被测目的的温度为 T1，情形温度为T2 ，该目的单位面积外貌发射的辐射能为，而被它所吸收辐射能为，则该物体发出的净辐射能Q 为:
其中：
A-- 单位面积
ε -- 辐射率
α -- 吸收率
由于ε=α，式（4）简化为 ：
红外测温仪即参照公式（5）举行温度丈量。注重公式中除了参数T1，其他参数都会影响到红外测温仪的丈量效果，主要因素有辐射率ε，透射率τ，北京温度BG以及其他因素影响。
1.2热电偶测温原理
热电偶测温是凭证热电效应，即塞贝克效应原理。以下仅作简朴形貌 ：
如上图将差别质料的导体A、B接成闭合回路,接触测温点的一端称丈量端,一端称参比端。若丈量端和参比端所处温度t和t0 差别,则在回路的A、B之间就爆发一热电势EAB(t，t0 ),这种征象称为塞贝克效应。EAB巨细随导体A、B的质料和两头温度t和t0 而变,这种回路称为原型热电偶。在现实应用中，将A、B的一端焊接在一起作为热电偶的丈量端放到被测温度t处，而将参比端脱离，用导线接入显示仪表，并坚持参比端接点温度t0稳固。显示仪表所测电压只随被测温度而t转变，从而通过丈量电压盘算获得丈量端的温度值。
2温度丈量验证
思量到热电偶丈量准确度更高，以是使用MCC/USB5201的测试效果作为标准参考值，较量红外测试装备与其丈量效果的差别，从而评估准确性。
2.1测试情形
温度测试点选择以下较量典范的：CPU散热片（代表金属散热片）、电源IC外貌（代表半导体器件）、硬盘金属外壳（代表外貌灼烁的金属）、电解电容铝壳。
测试效果
（1）注重62mini 在丈量小尺寸电源IC上的误差
62mini 由于产品设计的缘故原由，只能丈量收罗规模内的所有物体温度的平均值，以是使用时就必需注重到应用场景。若是待测物体尺寸大于或靠近收罗规模，那么丈量效果照旧较量准确的，与Ti32效果相近；但若是待测物尺寸远小于收罗规模，误差就较量大。如下图所示 ：
（2）注重红外测温仪对硬盘金属壳的丈量效果
规格标签和金属外壳的温度经由热电偶测试验证温度相同，但使用热像仪测试（如图6），标签温度为43.8℃，金属外壳温度为33.1℃，泛起了靠近10℃的差别。
验证划分在金属外貌粘贴黄胶带和使用玄色记号笔涂抹后的丈量值，可见黄胶带外貌丈量温度和标签以及热电偶丈量温度近似为43.8℃。而记号笔涂抹后没有作用。以是若是需要丈量这类较量平滑的金属外貌，由于其辐射率较量低，以是可在其外貌笼罩高辐射率的导热质料，如黄胶带、电工胶带或者涂抹导热硅脂，待其与待测物抵达热平衡后，丈量笼罩质料的外貌温度作为测试效果作为近似值。
3注重会影响到测试效果的因素
3.1反射征象 - 留神外貌灼烁的金属可能爆发错觉
下图为不锈钢外貌的温度丈量。其外貌温度使用热电偶丈量是29℃左右，但注重若是将手指靠近其外貌后，现实丈量会获得一个36.4℃的高温区。虽然这个高温区并不是真实保存的，是不锈钢外貌反射手指的红外成像，就像可见光的镜面反射一样，并不是待测物外貌的热辐射。
透射征象 - 留神看似透明的质料可能并不可透过红外能量
下图中当手和红外测试仪之间被亚克力隔离后，会发明手指的热成像也被阻断了，以是图中28.1℃只是亚克力外貌的温度。现实上只有少数质料可以透过红外线，如：锗、硅、塑料薄膜等，并且当在丈量路径上有这些质料的时间，也必需将质料的透射率参数输入热像仪中，不然丈量效果并不可靠。
3.3另外尚有一些情形需要注重，在此不做验证。包括大宗水蒸汽的大气层会吸收和散射红外辐射能，如在高湿度的条件下寓目远景；当待测物直径太小而无法填满像素，例从远处寓目高压线。
4结论
（1）热像仪Ti32在ε=0.95，τ=100% ，BG=20℃ 设置下，丈量现在产品的大部分部件温度，准确水平可以接受，与热电偶差别在2℃左右。但在丈量平滑金属外貌或使用在高湿情形等情形下需要注重评估丈量效果。
（2）62mini 使用时需要特殊注重到：只有待测物尺寸大于收罗规模时，其丈量效果才较量准确，与Ti32靠近。其他需要注重的情形与Ti32基内情同。
以是红外测温仪若是使用适当，在针对物体外貌温度的丈量上，准确性是可以接受的，虽然若是对精度要求很高，照旧需要使用接触式热电偶的丈量要领。
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